GB-T 44075-2024 纳米技术表面增强拉曼固相基片均匀性测量拉曼成像分析法

ICS17.040.20 CCSA42 中华人民共和国国家标准 GB/T44075—2024 纳米技术表面增强拉曼固相基片均匀性测量拉曼成像分析法 Nanotechnology—DeterminationoftheuniformityofSERSsolidsubstrate— Ramanmappinganalysis 2024-05-28发布 2024-12-01实施国家市场监督管理总局国家标准化管理委员会发布目次前言 Ⅲ ………………………………………………………………………………………………………… 引言 Ⅳ ………………………………………………………………………………………………………… 1 范围 1 ……………………………………………………………………………………………………… 2 规范性引用文件 1 ………………………………………………………………………………………… 3 术语和定义 1 ……………………………………………………………………………………………… 4 方法概要 2 ………………………………………………………………………………………………… 5 仪器设备 2 ………………………………………………………………………………………………… 6 试剂和材料 3 ……………………………………………………………………………………………… 7 测试过程 3 ………………………………………………………………………………………………… 8 测试报告 5 ………………………………………………………………………………………………… 附录A(资料性) 表面增强拉曼基片均匀性测量拉曼成像分析法示例 6 ……………………………… 参考文献 11 …………………………………………………………………………………………………… ⅠGB/T44075—2024

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GB-T 44075-2024 纳米技术 表面增强拉曼固相基片均匀性测量 拉曼成像分析法

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