GB-T 17554.3-2006 识别卡测试方法第3部分带触点的集成电路卡及其相关接口设备

ICS35.240.15 L 64 中华人民共和国国家标准 GB/T17554.3-2006 2:-614J3 识别卡测试方法：第3部分：带触点的集成电路卡及其相关接口设备 Identification cards-—Test methods-—Part 3 : Integrated circuit(s) cards with contacts and related interface devices (ISO/IEC10373-3:2001,MOD) 2006-03-14发布 2006-07-01实施中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局发布数码防伪中国国家标准化管理委员会 GB/T 17554.3—2006 目次前言 1 范围 2 规范性引用文件 3 术语和定义 4 测试方法的默认条款 4.1 测试环境 4. 2 预处理 4.3 默认容差 4. 4 总度量的不确定性 4.5 电气测量的约定 4. 6 设备 4.7 各类测试方法和与之相关的基本标准 5 带触点的集成电路卡物理特性的测试方法… 5. 1 触点的尺寸和位置 5. 2 静电 5. 3 触点的表面电阻· 5. 4 触点表面轮廓. 6 带触点的集成电路卡电气特性的测试方法 6.1 VCC触点 6. 2 I/O触点…· 6.3 CLK触点 6. 4 RST触点 6.5 VPP触点 7 带触点的集成电路卡逻辑操作的测试方法， 7.,1 复位应答(ATR) 7. 2 T=0协议 7. 3 T=1协议 8接口设备(IFD)物理和电气特性的测试方法 29 8.1 触点激活 29 8. 2 VCC触点 8.3 1/O触点· 8. 4 CLK触点 32 8. 5 RST触点 33 8. 6 VPP触点 34 8.7 触点停活? 9 IFD逻辑操作测试方法 9.1 复位应答（ATR) 35 9.2 T=0协议 36

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