ICS 31. 080. 1 L 40 GB 中华人民共和国国家标准 GB/T 4937.2—2006/IEC 60749-2:2002 部分代替GB/T4937—1995 半导体器件 机械和气候试验方法 第2部分：低气压 Semiconductor devicesMechanical and climatic test methods- Part 2:Low air pressure (IEC 60749-2:2002,IDT) 2006-08-23 发布 2007-02-01实施 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 发布 中国国家标准化管理委员会 中华人民共 和 国 国家标准 半导体器件 机械和气候试验方法 第2部分：低气压 GB/T4937.2—2006/IEC60749-2:2002 * 中国标准出版社出版发行 北京西城区复兴门外三里河北街16号 邮政编码：100045 http://www. spc. net. cn 电话：（010)51299090、68522006 2007年1月第一版 * 书号：155066·1-27687 版权专有 侵权必究 举报电话：（010)68522006
GB-T 4937.2-2006 半导体器件 机械和气候试验方法 第2部分 低气压
文档预览
中文文档
8 页
50 下载
1000 浏览
0 评论
309 收藏
3.0分
温馨提示：本文档共8页，可预览 3 页，如浏览全部内容或当前文档出现乱码,可开通会员下载原始文档
本文档由 人生无常 于 2024-06-30 17:43:00上传分享
GB-T 4937.2-2006 半导体器件 机械和气候试验方法 第2部分 低气压
