ICS 31. 080. 1 L 40 GB 中华人民共和国国家标准 GB/T 4937.1—2006/IEC 60749-1:2002 部分代替GB/T4937—1995 半导体器件 机械和气候试验方法 第1部分：总则 Semiconductor devices-Mechanical and climatic test methods- Part 1 :General (IEC 60749-1:2002,IDT) 2006-08-23发布 2007-02-01实施 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 发布 中国国家标准化管理委员会
GB-T 4937.1-2006 半导体器件 机械和气候试验方法 第1部分 总则
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